赫爾納供應英國Jandel可調節高度自動探頭
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公司簡介:
Jandel工程有限公司提供了可調節高度探針臺的自動Z運動(AFPP)用于進行四點探針測量。
AFPP可以用于測量各種各樣的小樣本大小薄層和300毫米晶圓錠250毫米高(厚的樣品安置在請求)。
可以使用AFPP獨立提供的電源適配器,或者可以動力和由Jandel RM3000使用單一鉛連接這兩個工具之間。
Jandel可調節高度自動探頭產品類別:
l jandel四探針探頭
l jandel四探針
l jandel探頭
l jandel探針臺
主要型號:
設備尺寸
1.可調節高度測試臺:W×L×H(mm)320×370×8
2.AFPP主機:W×L×H(mm)64×215×67
3.可調節高度軸桿:d(mm)19;L(mm)200(可定制額高度到1000mm)
A-D型號和E-H型號
產品介紹:
l 可測晶片直徑:直徑d≤300mm
l 可測晶片厚度:高度h≤250mm
l 自動停機:具有接觸到樣品的傳感器(通過傳感器檢測接觸到樣品)
l 手動控制:遠程控制
l Jandel-RM300能夠提供電源和樣品接觸
優勢特點:
系統配置
組成部件(產品配置):
1.測試臺——1個
2. AFPP主機——1個
3.可調節高度的軸桿——1根
4.四探針探頭——1個
5.電纜線——一根
英國Jandel可調節高度自動探頭主要應用:
用于半導體行業以及大學,實驗室工作和研究應用的電阻率測量設備。